研究發展處

專利名稱	量測物體三維複合表面輪廓之方法與裝置
年度	112
專利國別	中華民國
發明人	鄭超仁
共同發明人	杜翰艷、何思嘉、黃崇軒
核准證號	I 804128
屬性	本校
研發單位	光電工程研究所
專利簡介	一種量測物體三維複合表面輪廓之方法，包括：(a)透過至少一組投影單元，以投影一影像至一樣品；(b)透過一影像存取單元，以記錄樣品之反射光波前；(c)透過一數位全像重建方法，以重建樣品之鏡射表面反射光波前及其表面三維輪廓資訊；(d)透過一條紋投影分析方法，以重建樣品之漫射表面的相位影像及其表面三維輪廓資訊；以及(e)透過一影像貼合技術將鏡射表面與漫射表面之三維影像進行影像對位，以完成全幅的鏡射與漫射複合表面造影及其三維輪廓重建
專利期限	2041/12/22
技術領域	光電工程
適用產業別	18.機械設備製造業 19.電腦、電子產品及光學製品業
技術應用方式與預期產品說明	工業檢測：非接觸式光學三維複合表面 鏡射面、漫射面 樣品之成像與結構量測，並以量化分析方法具體呈現物體三維表面結構。 面板檢測：面板之瑕疵檢 測與三維結構之量測分析。 雷射加工：脈衝雷射加工於玻璃、金屬、聚合物等相關材料之表面三維檢測。
關鍵字	數位全像術、條紋投影術、自動化光學檢測